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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

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中国 Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited 認証

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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

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商品の詳細:

起源の場所:	中国
ブランド名:	Pego Electronics
証明:	Third-Lab Calibration Certificate
モデル番号:	PG-TPB

お支払配送条件:

最小注文数量:	1セット
価格:	交渉可能
パッケージの詳細:	保護ケース+カートン
受渡し時間:	3営業日
支払条件:	T/T、ペイパル
供給の能力:	1000pc/月

詳細製品概要

標準に適合する:	IEC61032,IEC60601,IEC62368-1,IEC60598-1,IEC60529 について	材料:	隔熱材料 (ハンドル) と金属 (指)
リードタイム:	3営業日	応用:	危険な部分へのアクセシビリティを検証するために
タイプ:	アクセスプローブ	推進機:	0N-50N
ハイライト:	30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe , 80±0.2 Length Standard Test Finger , 180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N

Standard Test Finger for Accessibility Test

Introduction

The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.

Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.

Specification

Model	PG-TPB
Jointed point size 1	30±0.2
Jointed point size 2	60±0.2
Length of finger	80±0.2
Fingertip to baffle size	180±0.2
Fingertip taper fillet	S4±0.05
Diameter of finger	Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle	Ф75±0.2
Thickness of baffle	5±0.5
A-A section diameter	Ф50
A-A section width	Ф20±0.2
Thruster	10N optional
Standard	IEC61032

タグ:

コンタクトパーソン: Ms. Penny Peng

電話番号: +86-18979554054

ファックス: 86--4008266163-29929

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出荷: 明白によって

保証: 12ヶ月

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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

80±0.2 Length Standard Test Finger

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

指の調査テスト,

ulは指の調査を連結しました,

ulテスト指